在半导体晶圆检测中，AI（人工智能）正发挥着越来越关键的作用，尤其是在从海量图像数据中快速、准确地识别纳米级缺陷方面，它展现出了传统图像处理技术难以比拟的优势。 传统检测方法的局限性 在了解AI之前，我们先快速回顾一下传统方法。传...
